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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）  Hardcover,  言語：ENG

Breitenstein, Otwin/ Warta, Wilhelm/ Schubert, Martin C.

  • ウェブストア価格 ¥34,900（本体¥31,728）
  • Springer International Publishing AG（2019/01発売）
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics .10) （2. Aufl. 2013. X, 256 S. 85 SW-Abb., 5 Farbabb. 235 mm）
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics .10) （2. Aufl. 2013. X, 256 S. 85 SW-Abb., 5 Farbabb. 235 mm）  Paperback

Breitenstein, Otwin/ Warta, Wilhelm/ Langenkamp, Martin

  • SPRINGER, BERLIN; SPRINGER（2013発売）
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Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (Solid State Phenomena)
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Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (Solid State Phenomena)  Paperback,  言語：ENG

Kittler, Martin (EDT)/ Breitenstein, Otwin (EDT)/ Endrös, A. (EDT)

  • Trans Tech Publications Ltd（1998/12発売）
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